Preparation
制样与采集记录
机械预抛后电解抛光；根据晶粒尺度和最小目标区域选择步长。
Observation checklist
建议观察要点
- 同时保存 IPF 图、花样质量图与未清理索引结果
- 明确样品、显微镜与晶体坐标系
- 晶界统计需给出最小错配角与清理规则
Interpretation boundary
解释边界
- KAM 等派生指标受步长、噪声与核设置影响，不可直接等同于位错密度
- 过度清理可能删除真实的小晶粒或变形带
教学示意纹理 · 待真实数据替换100 μm
Micrograph record
304不锈钢 · 固溶态
等轴奥氏体晶粒内可见退火孪晶；EBSD 可进一步分析晶界类型与取向分布。
- 牌号 / 标准
- S30408
- 材料类别
- 钢铁材料
- 成像条件
- EBSD · 300×
- 腐蚀剂
- 电解抛光
- 组织标签
- 奥氏体、退火孪晶
- 标尺
- 100 μm