阅读设置
01

样品与前置条件

  1. 记录相、织构、制样、应变和热处理状态。
  2. 采用匹配几何的线形标样测仪器响应，保留标定文件。
  3. 采集多个可分辨反射与足够信噪比，避免过度磨样改变缺陷。
02

建议工作流

  1. 先做物相与重叠检查，明确哪些峰可进入分析。
  2. 建立仪器线形及其角度依赖，按模型处理卷积而非任意相减 FWHM。
  3. 选择适合材料的改进 Williamson–Hall、Warren–Averbach 或整谱模型。
  4. 记录 Burgers 矢量、弹性常数、位错性格与衬度因子假设。
  5. 联合拟合尺寸与应变相关参数，检查系统残差和相关性。
  6. 比较不同峰组、背景和仪器函数的敏感性，给出区间或不确定度。
  7. 与 TEM/ECCI 统计及 EBSD GND 在状态、体积和定义一致后比较。
03

结果怎么解释

  1. 展宽增加可能来自位错、层错、尺寸或多相，需排除竞争解释。
  2. 相干衍射畴不一定等于颗粒或金相晶粒。
  3. XRD 密度是所选模型和采样体积下的估计，不是逐根位错计数。
04

局限与常见误区

  1. 强织构、少晶粒和强重叠会限制分析。
  2. 仪器函数与样品贡献相近时，密度可能高度不稳定。
  3. 层错和各向异性未正确建模可导致有偏结果。

标准与权威来源

请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。