阅读设置
01

样品与前置条件

  1. 原始图样或可靠取向与角精度评估
  2. 统一物理邻域、步长、相和边界掩膜
02

建议工作流

  1. 选择具体问题，区分弹性应变、取向散布和 GND。
  2. 明确 KAM 邻域、GROD 参考与清理策略，估算角噪声。
  3. 用合成线性转动场检查角度、长度单位及导数。
  4. 如反演 GND，记录 Nye 符号、位错集合、缺失导数与目标函数。
  5. HR-EBSD 另保存参考、相关残差、几何与应力边界条件。
  6. 对步长/滤波/阈值做敏感性分析，附未索引和失效区。
03

结果怎么解释

  1. ρ≈θ/(bℓ) 只是量级估计
  2. 二维 GND 不是总位错密度
04

局限与常见误区

  1. SSD 与缺失的三维梯度不可唯一恢复
  2. 平滑与制样损伤会系统性改变结果

标准与权威来源

请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。

[C18] Some geometrical relations in dislocated crystals (1953)连续位错密度张量与晶格曲率联系的经典来源。 本专题声明张量符号约定；二维扫描不提供所有空间导数。[C13] Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: Effects of detector binning and step size (2013)研究探测器合并像素与扫描步长对 HR-EBSD GND 测量的影响。 比较不同数据集前统一空间和角分辨率，并报告噪声底。[C12] A Review of Strain Analysis Using Electron Backscatter Diffraction (2011)综述 EBSD 应变分析的假设、参数敏感性和限制。 区分弹性应变、晶格转动及塑性变形代理量；KAM 不是通用应变标尺。[C14] Understanding deformation with high angular resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD) (2018)解释互相关 HR-EBSD 如何连接图样位移、应变与转动。 教程类会议论文；检查参考图样、投影中心和自由表面假设。