阅读设置
01

样品与前置条件

  1. 有代表性的观察表面及材料、热处理背景。
  2. 目标尺度、目标角灵敏度、相候选与设备几何记录。
02

建议工作流

  1. 按宏观织构、细组织、局部梯度或 HR-EBSD 明确采集目标。
  2. 检查各相与代表区域的表面状态，避免只在一处好花样上优化。
  3. 确认相库、晶格参数、反射与 PC 约定，保存代表性原始花样。
  4. 选择电压、束流、曝光和探测器合并像素，说明它们与目标信息的关系。
  5. 按有效分辨率和组织尺度选步长，按独立晶粒数与非均匀性选范围。
  6. 记录扫描方向、时长、漂移和坐标；需要重索引或 HR-EBSD 时保存原始花样。
  7. 先审查质量与空间异常，再进入后处理；别用清理替代根本采集问题。
03

结果怎么解释

  1. 索引率高不证明 PC、相或坐标正确。
  2. 步长、空间分辨率、角精度和视场代表性各有不同含义。
04

局限与常见误区

  1. 旧书中的设备速度与数值设置不作为当前通用标准。
  2. 制样损伤或扫描漂移可能形成系统偏差。

标准与权威来源

请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。