阅读设置
样品与前置条件
- 晶格常数、晶轴夹角与晶体对称性。
- 试样 RD/TD/ND、截面和取向文件的映射约定。
建议工作流
- 构建直接基 A,确认三个基向量线性独立;对六方晶体记录 a、c 及基底夹角。
- 用 d=A[u v w]ᵀ求方向,用 n=A⁻ᵀ[h k l]ᵀ求法向;分别归一化,检查面内条件。
- 构建或导入 R,检查 RᵀR=I、detR=1;用已知试样方向核对,而不只看数值合法性。
- 计算一个固定极 h 的 Rh,并求 θ=acos(yz)、ψ=atan2(yy,yx)。
- 选等角或等面积投影;按约定处理上下半球,保留 RD/TD 标记。
- 反向计算 RᵀND,按晶体对称放入合适区域;对照 IPF 色键理解颜色。
- 扩展到多个取向,区分离散点与核密度;保存权重与带宽。
结果怎么解释
- 同一完整取向对应多个等价极,多个亮斑不一定表示多个组分。
- PF、IPF 的信息方向相反,但都不能单独替代完整 ODF。
局限与常见误区
- 不要把非立方 [hkl] 当成 (hkl) 的法向。
- 整体图面旋转与取向参考系变换必须明确区分。
标准与权威来源
请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。
Olaf Engler; Stefan Zaefferer; Valerie Randle:《Introduction to Texture Analysis: Macrotexture, Microtexture, and Orientation Mapping》(2024,第 3 版)对应原理与参数解释见本专题完整推导正文;软件操作以所用版本帮助为准。↗毛卫民;张新明:《晶体材料织构定量分析》(1993,第 1 版;所供扫描本为 1995 年第 2 次印刷)对应原理与参数解释见本专题完整推导正文;软件操作以所用版本帮助为准。↗T.B. Britton; J. Jiang; Y. Guo; A. Vilalta-Clemente; D. Wallis; L.N. Hansen; A. Winkelmann; A.J. Wilkinson (2016). Tutorial: Crystal orientations and EBSD — Or which way is up?对应原理与参数解释见本专题完整推导正文;软件操作以所用版本帮助为准。↗