XCT 检测
06 · 伪影排查：束硬化、环、条纹、运动和截断
通过原始投影与三正交切片区分伪影和真实结构，避免在错误重建上继续精细统计。
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先记住这三点
- 束硬化与散射
- 环伪影与探测器问题
- 运动、截断与金属条纹
- 一份排查顺序
束硬化与散射
同质圆柱中心灰度低于边缘的杯状效应可能与束硬化有关，高衰减结构之间也可出现条纹。散射会给探测信号叠加不满足理想线积分模型的成分。可考虑适当能谱过滤、参数优化和经验证的校正，但校正本身也需验证。
若中心“低密度区”随扫描参数明显变化，应首先怀疑成像效应。不能把所有暗带都分割成真实孔隙，也不能仅凭某个校正滑块消除了暗带就宣布结果准确。
环伪影与探测器问题
探测器某些像素响应异常或平场不匹配，可能在重建中围绕旋转轴形成环。观察不同高度切片、正弦图和空场可帮助识别。环与真实同心结构可能外观相近，需要结合几何和采集记录判断。
过强的环校正可能删除真实的圆柱形或同心结构。比较校正前后同一坐标的图像，并保存参数。不要只展示校正后的最终截图。
运动、截断与金属条纹
运动会造成边缘重复、模糊或不一致，夹具漂移与加载过程都可能参与。物体超出探测器视场导致投影截断，可能影响内部灰度和边界。高衰减路径光子不足时，对数处理会严重放大误差。
这些问题有的需要重新设计扫描，而不是后期换阈值。必须区分几何/采集错误与分割算法选择。让阈值“吸收”采集缺陷会使结果失去物理解释。
一份排查顺序
先看全角度投影有没有饱和、缺光或运动，再查暗平场和几何；随后看三正交切片，比较结构是否沿真实材料边界连续；最后测试合理的重建参数变化。每次只改变可解释的一组因素。
教学练习：一圈暗环在每张切片上都以旋转轴为中心，而样品偏心放置。它更值得作为环伪影候选检查，不能仅因位于材料内部就计入孔隙。
来源与延伸阅读
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